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系統概述：

ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體功率器件圖示系統，系統IV曲線自動生成，也可根據實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。提供在線故障判斷，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試。通過USB或者RS232與電腦連接，以及人機界面操作，即可完成測試，并實現結果以Excel和Date的格式保存。

 

曲線測試： 參數條件：

01	二極管  /  DIODE
02	晶體管  /  NPN型/PNP型
03	J型場效應管  /  J-FET
04	MOS場效應管  /  MOS-FET
05	雙向可控硅  /  TRIAC
06	可控硅  /  SCR
07	絕緣柵雙極性晶體管  /  IGBT
08	硅觸發可控硅  /  STS
09	達林頓陣列  /  DARLNTON
10	光電耦合  /  OPTO-COUPLER
11	繼電器  /  RELAY
12	穩壓、齊納二極管  /  ZENER
13	三端穩壓器  /  REGULATOR
14	光電開關  /  OPTO-SWITCH
……	其它器件共19大類27分類

ID vs. VDS at range of VGS

ID vs. VGS at fixed VDS

IS vs. VSD

RDS vs. VGS at fixed ID

RDS vs. ID at several VGS

IDSS vs. VDS / HFE vs. IC

BVCE（O，S，R，V）vs. IC

BVEBO vs. IE

BVCBO vs. IC

VCE（SAT）vs. IC

VBE（SAT）vs. IC

VBE（ON）vs. IC （use VBE test）

VCE（SAT）vs. IB at a range of ICVF vs. IF

 

 

 

 

匹配規格：

主極電壓	1mV-2000V
電壓分辨率	1mV
主極電流	0.1nA-100A
電流分辨率	0.1nA
測試精度	0.2% 2LSB
測試速度	0.5mS/參數

 

 

 

 

 

測試參數：

漏電參數：IR、 ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、

 ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、

 IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

擊穿參數：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、

 BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR 、VD 、VD-、

 BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT 、VT-、VON、

 VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、

 VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)

 Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator) 

關斷參數：VGSOFF

觸發參數：IGT、VGT

保持參數：IH、IH 、IH-

鎖定參數：IL、IL 、IL

增益參數：hFE、CTR、gFS

混合參數：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulatio

間接參數：IL